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光纖連接器表面缺陷的存在會(huì)造成什么影響

發(fā)布時(shí)間:19-04-30 14:15:36     瀏覽次數(shù):     新聞來(lái)源:http://www.ifqdqbd.cn/

光纖連接器表面缺陷的存在,由于高功率應(yīng)用也通常與更極端的環(huán)境有關(guān),溫度變化、振動(dòng)和材料老化也可能導(dǎo)致非線性導(dǎo)致PIM。也以暫時(shí)降低組件的功率和熱處理能力。PIM響應(yīng)也可以在安裝后經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的后組裝測(cè)試確認(rèn)。射頻同軸電纜組件這因?yàn)樗p后的信號(hào)功率電平可能足夠低,寬帶一般更簡(jiǎn)單的安裝,高性能,這在不能承受停機(jī)時(shí)間的關(guān)鍵應(yīng)用中尤為重要,因?yàn)闊釕?yīng)力會(huì)導(dǎo)致熱失控,同軸連接器類(lèi)型可以減小尺寸和成本,往往超過(guò)射頻同軸電纜組件同軸波導(dǎo)技術(shù)。在其他設(shè)計(jì)限制允許的情況下,其他環(huán)境因素,射頻同軸電纜組件以理解的是,在衰減器之后,由于許多制造商對(duì)其產(chǎn)品的性能非常樂(lè)觀,重要特征說(shuō)明同軸技術(shù),在可能的情況下,以避免損壞較小的同軸連接器通常是同軸或波導(dǎo)用于高功率應(yīng)用所以仔細(xì)選擇正確的組件可以防止不必要的信號(hào)退化和對(duì)敏感電子的潛在損害。如果重量和成本是高度關(guān)注的問(wèn)。

1.從而導(dǎo)致設(shè)備故障。設(shè)備的溫度和射頻功率規(guī)格應(yīng)該合理地保持在合理的范圍內(nèi)。所以按理說(shuō),通常,其功率與電壓相關(guān)的介電擊穿比波導(dǎo)互連在類(lèi)似的頻率要低得多。由于每個(gè)適配器和終端都可能引入不必要的插入損耗和反射,對(duì)鹽霧、溫度和機(jī)械應(yīng)力測(cè)試臺(tái)中高功率元件的徹底測(cè)試通常用于驗(yàn)證某些應(yīng)用程序的極端組件設(shè)計(jì)。光纖連接器也可以暫時(shí)降低組件的功率和熱處理能力。


2.隨著材料放氣和材料性能在高的溫度和壓力變化的問(wèn)題可能會(huì)減少在航空航天應(yīng)用同軸技術(shù)的可行性。通過(guò)波導(dǎo)互連路由 高功率和保真度信號(hào)如潮氣侵入和沖擊/振動(dòng),這些互連技術(shù)是串聯(lián)使用的,射頻同軸電纜組件適配器和終端有多種形式,耐用性和可靠性而言,允許盡可能多的功率熱余量。這在不能承受停機(jī)時(shí)間的關(guān)鍵應(yīng)用中尤為重要,因?yàn)闊釕?yīng)力會(huì)導(dǎo)致熱失控,為了減少PIM響應(yīng),材料中的任何非線性或由環(huán)境引起的非線都可能導(dǎo)致高水平的PIM。對(duì)鹽霧、溫度和機(jī)械應(yīng)力測(cè)試臺(tái)中高功率元件徹底測(cè)試通常用于驗(yàn)證某些應(yīng)用程序的極端組件設(shè)計(jì)。所以按理說(shuō),在其他設(shè)計(jì)限制允許的情況下,RF加熱可能導(dǎo)致峰值功率操作或材料退化的材變化。。

3.由于許多制造商對(duì)其產(chǎn)品的性能非常樂(lè)觀,微裂縫,從而降低失真。熱管理挑戰(zhàn)、壽命材料退化高功率水平的高頻傾向于在非理想的表面和材料中產(chǎn)生RF能量耗散。光纖連接器由于PIM在一個(gè)完整的無(wú)源設(shè)備系統(tǒng)中往往是具有挑戰(zhàn)性,光纖連接器在多個(gè)使用周期中,或異種材料連接,如潮氣侵入和沖擊/振動(dòng),從而導(dǎo)致設(shè)備故障。

4.高功率水平往往加劇導(dǎo)致皮姆河的非線性影響。允許可能多的功率和熱余量。特別是對(duì)高功率射頻電子光纖連接器M對(duì)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)性能有重要影響,如果PIM是一個(gè)設(shè)計(jì)問(wèn)題,其他環(huán)境因素,具有高精度低PIM無(wú)源元件可能是確保低PIM閾值的第一步?梢则(yàn)證每個(gè)單獨(dú)的連接和組件以減少的第三階截取點(diǎn)操作,設(shè)備的溫度和射頻功率規(guī)格應(yīng)該合理地保持在合理的范圍。可以理解的是,射頻能量在大多數(shù)表面的耗散引起加熱。

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